Chap.10- Microanalyse Flashcards

1
Q

Principaux signaux analysés en microanalyse

A

-é secondaire
-é rétrodiffusé
-rayon-x

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Q

Collisions élastiques

A

*Électrons rétrodiffusés
-Direction de é incidents modifiés par le champ coulombique entourant le noyau
-Vélocité demeure environ constante
-Quantité d’énergie transférée par le faisceau d’électron est <1 eV

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3
Q

Collisions inélastiques

A

*Rayon-x et é secondaires
-Les é incident transfert une partie de leur énergie au é bien liés des orbitales inférieur et à ceux faiblement liés des orbitales externes
-Direction de é change peu

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4
Q

Cathodoluminescence

A

Lumière créé par les collisions

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5
Q

Électrons rétrodiffusés

A

-Électrons émis par rebondissements élastiques sur les noyaux atomiques.
-Énergie de l’ordre de grandeur de celle des électrons incidents (peu de perte d’énergie- effet cumulatif)
-Varie directement avec la composition chimique
-Permet de différencier les phases à partir de leur densité atomique (Plus le Z est grand plus il y a d’é rétrodiffusés et plus le signal est blanc sur l’échantillon)

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6
Q

Électrons secondaires

A

-Dûs aux collisions inélastiques des électrons incidents
-Très faible énergie <50e provenant de la surface
-Excellente résolution d’image – idéal pour analyse texturale

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7
Q

Procédures d’analyses

A

-Analyse ponctuelle :
*analyse des teneurs
*composition chimique
*mesure du bruit de fond avant/après ainsi que l’intensité de la raie
-Analyse linéaire ou profil :
*profil de concentration
*mise en évidence des zonations, diffusion, joint de grains…
-Analyse de surface ou balayage :
*image en R-x : distribution et localisation des éléments, structure, textures
*image en é rétrodiffusés : variation de densité, structure et texture
*image en é secondaire : topographie, structure et texture

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8
Q

Spectromètre définition

A

-Appareil pour mesurer l’intensité des rayonnements x émis par l’échantillon

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9
Q

Types de spectromètre:

A

-Spectromètre en énergie dispersive (EDS)
*quantitatif à semi-quantitatif
*permet l’acquisition de toutes les raies en même temps séparée selon leur énergie
-Spectromètre en longueur d’onde (WDS)
*quantitatif
*permet l’acquisition d’une seule raie à la fois séparée selon la longueur d’onde
(souvent on utilise les 2)

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10
Q

Principe de la microanalyse

A

-La microsonde électronique utilise pour fins d’analyse l’émission des rayons X et les phénomènes secondaires qui résultent du bombardement d’une cible par un faisceau d’électrons accélérés

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11
Q

Étalon ou standard définition, propriétés

A
  • Matériau homogène
  • Stable sous le faisceau d’électrons
  • Composition bien connue
    (Les standards servent à relier les intensités des signaux analysés aux concentrations)
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12
Q

Étapes de l’analyse quantitative

A
  • Étape 1: Identification des principaux éléments constituant l’inconnu (spetre en EDS)
  • Étape 2 : Choix du standard et des raies d’analyse (on évite les supperpositions)
  • Étape 3 : Analyse des différents éléments rencontrés dans l’inconnu et le standard (en longueur d’onde)
  • Étape 4 : Correction de comptage
  • Étape 5 : Correction de fond continu et rapports d’intensités
  • Étape 6 : Correction de fluorescence, d’absorption et de numéro atomique, et calcul des teneurs vraies
  • Étape 7 : Identification du minéral inconnu
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13
Q

Décrivez brièvement le principe de la microsonde électrique

A

-La microsonde électronique utilise pour fins d’analyse l’émission des rayons X et les phénomènes secondaires qui résultent du bombardement d’une cible par un faisceau d’électrons accélérés.
(Un faisceau d’électrons de l’ordre de 1 micron ou moins de diamètre est mis au point en un endroit particulier à la surface d’une phase dont on veut déterminer la composition chimique)
-Un très petit volume de matière d’au plus quelques microns cubes émet alors des rayons X dont l’analyse spectrale permet de déterminer quels éléments chimiques sont présents dans la phase excitée aussi bien que leurs concentrations.
-Les électrons rétrodiffusés donnent une image de la densité atomique des phases
-Les électrons secondaires donnent une image de la topographie de surface de l’échantillon.

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14
Q

Rayon-X

A

-Produit par le matériel bombardé
-Permet de connaitre la composition chimique du volume analysé

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15
Q

Exemple de production de raies de rayon -X -K, L, M :

A

-Ka: éjection d’un é de l’orbitale k, remplacé par un é provenant d’une orbitale L
-Kb: é de la couche k remplacé par é de la couche m
-La: éjection d’un é couche L, remplacé par un é de la couche M
-Ma: éjection d’un é de la couche M remplacé par é couche N

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16
Q

But de l’analyse quantitative

A

-Mesurer l’intensité d’une raie caractéristique d’un élément (connaitre sa concentration)

17
Q

Correction a apporter aux intensités mesurées

A

-De comptage
-De fond continu
-De fluorescence
-D’absorption
-De numéro atomique

18
Q

Imagerie :

A

-Électrons secondaires :
*image ayant l’air en 3D
-Électrons rétrodiffusés :
*images des densités atomiques moyennes
-Rayon-x:
*cartographie chimique